| Наименование методики | Аттестация | |
|---|---|---|
| Электронная растровая микроскопия | Исследование структуры поверхности непроводящих образцов с предварительной подготовкой напылением металла | Нет |
| Исследование структуры поверхности проводящих объектов без предварительной подготовки | Нет | |
| Методика микроэнергодисперсионного элементного анализа образцов | Нет | |
| Зондовая микроскопия | Исследование структуры поверхности образцов атомно-силовым микроскопом | Нет |
| Исследование структуры поверхности образцов туннельным микроскопом | Нет | |
| Исследование адгезионных и электрических свойств микрообъектов | Нет | |
| Оптические анализаторы | Исследование гранулометрического состава коллоидных систем методом рассеяния света | Нет |
| Исследование оптической прозрачности образцов | Нет | |
| Рентгеновская дифрактометрия | Получение рентгеновских дифрактограмм образцов | Нет |
| Реометрия | Измерение динамической вязкости жидкостей | Нет |
К основным направлениям научных исследований ЦКП относятся: