Наименование методики | Аттестация | |
---|---|---|
Электронная растровая микроскопия | Исследование структуры поверхности непроводящих образцов с предварительной подготовкой напылением металла | Нет |
Исследование структуры поверхности проводящих объектов без предварительной подготовки | Нет | |
Методика микроэнергодисперсионного элементного анализа образцов | Нет | |
Зондовая микроскопия | Исследование структуры поверхности образцов атомно-силовым микроскопом | Нет |
Исследование структуры поверхности образцов туннельным микроскопом | Нет | |
Исследование адгезионных и электрических свойств микрообъектов | Нет | |
Оптические анализаторы | Исследование гранулометрического состава коллоидных систем методом рассеяния света | Нет |
Исследование оптической прозрачности образцов | Нет | |
Рентгеновская дифрактометрия | Получение рентгеновских дифрактограмм образцов | Нет |
Реометрия | Измерение динамической вязкости жидкостей | Нет |
К основным направлениям научных исследований ЦКП относятся: